Вопросы по тестерам FORMULA HF

Phone:

E-mail:

Fax:

В ходе разработки Тестового решения на Тестере FORMULA HF2 столкнулись с браками на каналах в состоянии "X"

Как известно, состояния/форматы (State, в мнемонической форме: 0, 1, L, H, Q, J, X, Z) векторов ФК, которые описывают «элементарные проверки» (воздействия/отклики на объект контроля (ОК)), формируются из трех бит: Test, Msk, Blk.

При этом только «ключевые» биты Test хранятся непосредственно в памяти векторов ёмкостью 64M, а под вспомогательные биты Blk и Msk в Тестере выделено специальное ОЗУ Атрибутов ёмкостью 8192 слов (что соответствует 13-ти разрядному адресу ОЗУ).

Бит Blk (Block, блокировка) в общем случае служит для перевода драйвера канала Тестера в третье состояние, а бит Msk (Mask, маска) — для игнорирования (при необходимости) результатов работы компараторов. Поэтому необходимость изменения величины этих сигналов (0/1) во время выполнения ФК (т.е. необходимость добавления комбинаций/слов в ОЗУ Атрибутов) возникает обычно только для двунаправленных шин (или отдельных двунаправленных сигналов, которые можно считать шинами единичной ширины), при изменении их направления (direction: вход/выход/Z-состояние).

Как правило, в шине все сигналы переключаются на вход или на выход одновременно. Это означает, что количество комбинаций/слов битов Blk и Msk, которым необходимо выделить место в ОЗУ атрибутов, от ширины шины практически не зависит. Однако количество таких комбинаций зависит от количества обслуживаемых двунаправленных шин.

Для лучшего понимания условно и несколько упрощенно можно считать, что ширина адреса (13 бит) ОЗУ Атрибутов определяет максимальное количество независимых двунаправленных шин (т.е. ~13 шт.), поддерживаемых при тестировании объекта контроля.

ВНИМАНИЕ: не следует путать ограничение по количеству двунаправленных шин с ограничением по количеству «уникальных» векторов в тестовой последовательности. В Тестере FORMULA HF (в отличии, например, от Тестера FORMULA 2K) никаких ограничений на «уникальность» нет, т.е. все 64M векторов могут быть уникальными.

Отметим, что типовой ОК, если и имеет двунаправленные шины, то их количество обычно исчисляется единицами (например, шина данных + шина управления). Многолетний опыт эксплуатации Тестеров показал, что объём ОЗУ Атрибутов в 8192 слов в общем случае со значительным запасом перекрывает практические потребности в создании тестовых последовательностей ТП.

Как нам представляется, в вашей тестовой последовательности выполняется проверка шин не целиком, а по отдельным сигналам/битам. Другими словами, в один момент времени возможно задание различного направления для разных сигналов внутри шины. С точки зрения Тестера это эквивалентно многократному виртуальному увеличению количество двунаправленных шин у тестируемого ОК. Что в конечном итоге приводит к превышению условного порога (~13 шт.) количества поддерживаемых двунаправленых шин.

Рекомендую переработать тестовую последовательность таким образом, чтобы для используемых двунаправленных шин направление для всех составляющих их сигналов по возможности изменялось одновременно.

Если это по каким-либо причинам невыполнимо, можно попробовать разделить ТП на несколько частей (что также приведет к уменьшению количества комбинаций, записываемых в ОЗУ Атрибутов).

P.s.: начиная с модели FORMULA HF3 указанные выше ограничения отсутствуют – в Тестерах поддержан, так называемый, «полноформатный» файл векторов.

Для чего в Тестерах FORMULA HF нужен порт JTAG

Порт JTAG предназначен для выполнения вспомогательных функций/операций в процессе измерения (тестирования) объектов контроля, поддерживающих стандарт IEEE 1149.1.

Порт JTAG позволит Вам решать следующие задачи:

осуществлять процесс начальной инициализации (конфигурирования, программирования) той или иной структуры в ИМС (т. н. «прошивка»);
обеспечить установку выводов ИМС в необходимое состояние (лог.0 / лог.1, вход) «напрямую» через JTAG, с использованием Boundary-Scan цепочки;
выполнять передачу команд тестирования и сбора данных с целью выявления внутренних дефектов работы кристаллов ИМС, возникающих в динамическом режиме ее работы (в случае поддержания объектом контроля методологии «встроенного самотестирования» BIST);
выполнять полное или частичное тестирование функционального ядра (внутренней логики) объекта контроля (если Производитель ИМС заложил в структуру возможность использования соответствующей команды).

Порт поддерживает возможность работы с ИМС различного номинального напряжения цепей JTAG, например: 5 В, 3.3 В, 2.5 В.

С какой целью метод технологического контроля по JTAG включен в Тестеры FORMULA HF, имеющие совершенно другую область применения?

JTAG – это вспомогательный инструмент для удобства и сокращения времени на измерения заведомо бракованных микросхем. Тестирование по JTAG помогает испытательным центрам и предприятиям-потребителям иностранных покупных компонентов решить вопрос входного контроля, особенно в условиях ограничения финансов, времени, компетенций.

Обращаем внимание, что тестирование по JTAG – это не приемо-сдаточные испытания, а лишь ответ на вопрос, контрафактная продукция или нет. Для обеспечения самотестирования по JTAG микросхема должна быть контролепригодной, то есть иметь встроенные скан-цепочки. За рубежом большая часть микросхем выпускается пригодными для контроля не только по JTAG, но и по всем остальным необходимым методам.

Какое количество источников для питания объекта контроля в Тестере FORMULA HF Ultra?

В Тестере FORMULA HF Ultra в соответствии с Описанием типа предусмотрены следующие источники-измерители:

до 32 источника VDD до 15В и до 400мА,
до 32 источника VСС до 6В до 4А,
8 источников HVDD от -17В до 17В и до 500мА в составе модуля DPSM,
2 источника опорного напряжения PRS от -10В до 10В и до 10мА в составе модуля ARP,
сверхмощный внешний источник питания SPS до 3,5В и до 50А.

В Тестере FORMULA HF Ultra программное окно логического анализатора по величине осталось прежним по сравнению с предыдущей моделью FORMULA HF3?

В Тестере FORMULA HF Ultra отсутствуют ограничения по длине логического анализатора и цифрового осциллографа – по запросу и по мере возникновения необходимости мы можем сделать любую "величину программного окна".

В настоящее время мы "заложили" на логический анализатор – 500 векторов, на цифровой осциллограф – 100 векторов. На наш взгляд, это оптимальный выбор между временем построения и длиной тестовой последовательности.

Можно ли заказать универсальный адаптер, позволяющий на частотах до 20 МГц использовать для измерений сменные платы контактирующих устройств от Тестера FORMULA 2K?

Да, это возможно. Нами разработана специализированная переходная плата, позволяющая использовать контактирующие устройства от универсального адаптера Тестера FORMULA 2K с Тестером FORMULA HF.

Алгоритмический генератор используется только для тестирования ОЗУ?

Нет, не только! Алгоритмический генератор применяется во всех случаях, когда векторную последовательность можно представить алгоритмически. Это может быть и ОЗУ, и микроконтроллер, и даже простейший счетчик.

Почему при памяти ошибок Тестера FORMULA HF3 64М в логическом анализаторе (ЛА) в режиме ГТП можно посмотреть только 500 векторов?

Ограничение обусловлено предназначением ЛА Тестера. Как правило, алгоритм отладки функционального контроля (ФК) следующий: вначале запускается ФК целиком, затем по карте ошибок (КО) проверяется наличие векторов с результатом «Брак». В случае наличия таковых, запускается ЛА на необходимом участке ФК с ошибкой, который позволяет удобно определять отставание или, наоборот, опережение сигнала от строба контроля. Если требуется проанализировать реальную форму задаваемого или принимаемого Тестером сигнала, то запускается на определенном участке цифровой осциллограф (с ограничением 10 векторов).

Можем ли мы самостоятельно разрабатывать измерительную оснастку для измерения быстродействующих СБИС?

Да, рекомендации по разработке измерительной оснастки рассказываются в процессе обучения работе с Тестером, а так же приведены в документе «Рекомендации по разработке измерительной оснастки» ФРМИ.411739.005 РЭ13.

Каково время загрузки тест-последовательности в память Тестера FORMULA HF?

В Тестере FORMULA HF максимальное количество векторов 64М (М = 1024х1024).

Одна плата на 32 канала 64М загружается около 1 минуты. Если данные во всех платах различны, то в максимальном случае будет около 8-10 мин. В режиме мультисайт запись проходит еще быстрее благодаря тому, что на одновременно измеряемые ИМС могут записываться одинаковые данные.

На какой максимальный ток рассчитаны контакты POGO-PIN?

Контакты POGO-PIN рассчитаны на максимальный ток 2 А.

Можно ли поднять быстродействие Тестера FORMULA HF в режиме АГТ мультиплексированием каналов?

При использовании Тестера FORMULA HF в режиме контроля памяти (АГТ) мультиплицировать каналы с целью повышения частоты невозможно. Максимальная частота выполнения векторов в этом случае составляет 100 МГц по каждому каналу.

В случае использования алгоритмического генератора, какими статическими параметрами обладает каждый алгоритмический канал?

Алгоритмический генератор – это не отдельное устройство, это все тот же Тестер FHF. Поэтому статические параметры полностью соответствуют спецификации на Тестер FORMULA HF.

Где можно подробнее ознакомиться с техническими характеристиками алгоритмического генератора? Есть ли Вас примеры тестирования каких-либо ОЗУ?

У нас есть исчерпывающая документация по алгоритмическому генератору. Отправьте нам официальный запрос и мы с радостью отправим Вам ее по почте.

Подскажите, что такое измеритель PPMU, и можем ли мы его использовать на нашем Тестере FORMULA HF3?

PPMU - поканальные измерители статических параметров, позволяющие проводить измерение параллельно, что сокращает время выполнения измерительных программ в 3-7 раз по сравнению с измерениями при помощи PMU.

Предусмотрена возможность модернизации тестеров FORMULA HF3/HF3-512.

Какие адреса шины I2C доступны для пользователя?

Недоступны пользователю следующие адреса шины I2C:

30h, A2h, Е0h – использует плата CROSS
4Eh - индикация «брак/годен» сайтов 0..7
4Ch - индикация «брак/годен» сайтов 8..15
4Ah - индикация «брак/годен» сайтов 16..24
48h - индикация «брак/годен» сайтов 25..31
A4h - ПЗУ (EEPROM) на плате оснастки
AEh – дополнительное ПЗУ на плате универсального адаптера (УАП)

Остальные адреса свободны и могут быть использованы при разработке измерительной оснастки

Предусмотрена ли возможность перемещения измерительного блока Тестера, закрепленного в поворотной стойке, в горизонтальной плоскости с целью наиболее близкого размещения его измерительных разъемов относительно проб-карты?

Да, такая возможность предусмотрена в модификации поворотной стойки, которую можно заказать, если требуется работа с зондом.